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TRAPPED ELECTRONS: THE QUANTUM TUNNELING OF SOLID-STATE MEMORY

Silicon, Barriers, and the Microscopic Physics Powering Modern Digital Storage Architecture

Por BRYAN C. BROWN



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Ficha Técnica

Editorial: Epubli

ISBN: 9783565421459

Idioma: Inglés

Fecha de lanzamiento: 20/04/2026

Especificaciones del producto

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